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簡要描述：APD-QE 采用了光束空間強度技術(shù)，利用 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)制定的「Irradiance Mode」測試方式，與各種先進探尖臺形成完整的微米級光感測器全光譜效率測試解決方案。APD-QE 已被應(yīng)用于多種先進光感測器的測試中，例如在iPhone 曝光及其多種光感測器、Apple Watch 血氧光感測器、TFT 影像感測器、源動態(tài)圖元感測器（APS）、高靈敏度間切換 X 射線感測器等。
產(chǎn)品型號：APD-QE廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-06-28訪 問 量： 1591產(chǎn)品分類
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| 品牌 | Enlitech | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 測量模式 | 交流 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源 |
使用均勻光源的「照度模式」（Irradiance Mode） 符合ASTM E1021
取代傳統(tǒng)聚焦小光源，可以測試等級光電子檢測器。
均勢光斑可以克服色散差與像差的問題，可準(zhǔn)確測量得EQE曲線
可搭配多種探針系統(tǒng)，實現(xiàn)非破壞性的快速測試。
整合光學(xué)與測試系統(tǒng)，提高系統(tǒng)搭建效率。
一體式自動化測試軟件，自動光譜保存與檢測，工作效率高。
測試特性：
– 環(huán)境效率 EQE
– 光譜回應(yīng) SR
– IV 曲線檢測
– NEP 光譜檢測
– D* 光譜檢測
– 噪聲-電流-頻率響應(yīng)圖（A/Hz -1/2 ; 0.01Hz~1,000Hz）
– Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析
專業(yè)技術(shù)
定制化光斑尺寸與光強度光焱科技APD-QE光譜儀量子效率檢查系統(tǒng)在光束直達25mm光束尺寸、工作距200mm條件下檢查，可以達到光強度與光均強度如下。在波長530nm時，光強度可以達到82.97uW/(cm 2 )。
| 波長 (納米) | 半高寬（nm） | 光均U%=(Mm)/(M+m) | |
| 5毫米×5毫米 | 3毫米×3毫米 | ||
| 470 | 17.65 | 1.6％ | 1.0％ |
| 530 | 20.13 | 1.6％ | 1.2％ |
| 630 | 19.85 | 1.6％ | 0.9％ |
| 1000 | 38.89 | 1.2％ | 0.5％ |
| 1400 | 46.05 | 1.0％ | 0.5％ |
| 1600 | 37.40 | 1.4％ | 0.7% |
在光斑直徑25mm、工作距200mm條件下，APD-QE探測器量子效率測試系統(tǒng)測量的光均強度。
光焱科技具備自主光學(xué)設(shè)計能力。光斑與光強度在內(nèi)容中，可以接受客製化，如有需要與我們聯(lián)繫。
定量控制功能
APD-QE 光感測器量子效率檢測系統(tǒng)具有「定量」功能（選配），用戶可以透過控制各個單色光子數(shù)，讓各波長光子數(shù)都一樣，并進行測試。這也是光感測科技 APD-QE 光感測器量子效率檢測系統(tǒng)的獨到技術(shù)，其他廠商都做不到。
使用定量子數(shù)控制模式（CP控制模式），子數(shù)變化可以 < 1%
統(tǒng)一系統(tǒng)與探針整合
| 可量測 | 可客裂解 |
|---|---|
| 1.最終光強校正 | ．客化暗箱 |
| 2.光譜響應(yīng)測定 | ．XYZ軸位移平臺 |
| 3.外部量子效率（EQE） | ．定制探針臺整合服務(wù)． |
| 4.NEP 光譜 | |
| 5.D*光譜 | |
| 6.噪音-電流-頻率響應(yīng)圖(A/Hz -1/2 ) | |
| 7.Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析 | |
| 8.IV 曲線測試 ．不同光IV 曲線測試 ．定電流/電壓，電壓/電流間變化測試 ．照光條件下 |
采用了利傅立葉光學(xué)元件均光系統(tǒng)，可將單色光強度空間分布均勢化。在 10mm x 10mm 面積以 5 x 5 檢測光強度分，不一致勢在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小於 1%。在 20mm x 20mm 面積以 10 x 10 矩檢測光強度分，不一致勢可以小於 4%。
PDSW軟件采用全新SW-XQE軟件平臺，可進行多種自動化檢測，包含EQE、SR、IV、NEP、D*、速率雜訊電流圖（A/Hz1/2）、雜訊分析等。
EQE測試功能，可以進行不同單色波長測試，并且可以自動測試全光譜EQE。
軟體可支持多種 SMU 控制，自動進行光照 IV 測試以及暗態(tài) IV 測試，并支持多圖顯示。
相對于其它 QE 系統(tǒng)，APD-QE 可以直接檢測并得到 D* 與 NEP。
升級FETOS軟件操作界面（選配），可測試3端與4端的Photo-FET組件。
APD-QE 系統(tǒng)由其出色的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，可以組成多種探針臺。全波長光譜儀的所有光學(xué)元件都集成在精巧的系統(tǒng)中。單色光學(xué)儀引到探針臺遮光罩盒。圖像顯示了 MPS-4-S 基本探針臺組件，帶有 4 英寸真空吸入盤和 4 個帶有低噪音三軸電子的探針微定位器。
集成探針臺顯示微鏡，手動滑動切換到被測試設(shè)備的位置。使用滑動條件后，單色光源器被「固定」在設(shè)計位置。顯示微圖像可以顯示于屏幕上，方便用戶進行良好的連接。
A. 定制化隔離遮光箱。
B. 由于先進的PD估算響應(yīng)速度，所以有效面積就要小（降低容量效率），因此，有很多需要整合探針臺的需求。
C. 可整合不同的半導(dǎo)體分析儀器如4200或E1500。
LiDAR 中的光電探測器
– InGaAs 光電二維 / SPAD
蘋果手錶光能電感測器
用於高增益感和成像光電二極體門控電晶體
高頻電感增益和填充系數(shù)光學(xué)靈敏度分析儀
高靈敏程度間轉(zhuǎn)換X射線探測器表徵
矽光學(xué)
– InGaAs APD
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