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光譜響應測試與光電探測器特性分析

簡要描述:傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器面臨許多測試方法挑戰(zhàn)。光焱科技針對新世代的光電探測器 (PD) 提供了完整解決方案~命名為 PD-QE光譜響應測試與光電傳感器特性分析。

  • 產品型號:PD-QE
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-03-27
  • 訪  問  量: 3160

詳細介紹

品牌Enlitech產地類別進口
應用領域能源,電子/電池偏置電壓由20V~1000V
價格區(qū)間面議測量模式咨詢光焱科技專家

產品介紹


此系統(tǒng)與手套箱無縫整合,為分析敏感材料和組件提供了理想的環(huán)境。

PD-QE 結合先進科技與使用者友善的設計,讓研究人員和工程師能夠探索光譜學的新領域,并釋放光電探測器的全部潛力。

光電探測器基本特性分析設備的可用性對于這些組件的開發(fā)者和用戶都至關重要。

 不同的應用領域,例如光電二極管制造商、光纖通訊系統(tǒng)開發(fā)商、太陽能電池板制造商、大學和研究機構的實驗室以及質量控管公司,在功能方面可能有其他特定需求,包括所需的檢測范圍、分辨率或對特定環(huán)境條件的適應性。

傳統(tǒng)的量子效率系統(tǒng)在新型光電探測器的測試中面臨許多挑戰(zhàn)。 例如:

  1.偏置電壓無法超過12V:傳統(tǒng)量子效率系統(tǒng)使用鎖相放大器,其承受直流電壓無法過大,因此在一般的量子效率測試儀,電偏壓無法施加超過12V。

  2.無法做噪聲頻率分析。

  3.無法直接測得NEP與D*。

光焱科技針對新世代的光電探測器(PD)提供了完整解決方案,命名為PD-QE。

特色

1.高精度測量:

 PD-QE提供高精度的EQE和IV曲線測量,光源不穩(wěn)定度低于1%,確保測量結果的準確性和一致性,滿足客戶對高精度測量的期望。

2.集成多功能性:

 PD-QE 集成了多種功能,包括 EQE 測試、IV 曲線檢測、D* 分析、NEP 分析和頻率噪聲頻譜分析。 這種整合為客戶提供了一站式性能評估解決方案,滿足他們對整合多功能性的期望。

3.靈敏度測試:

 PD-QE 能夠測量高分辨率的光電流(分辨率高達 10^-14 安培),使其適用于測試高靈敏度的光電探測器。 這有助于客戶準確評估探測器在低光照條件下的性能,滿足他們對靈敏度測試的期望。

4.寬波長范圍:

 PD-QE 適用于各種光電探測器,無論是在研發(fā)階段還是生產線上,都能提供的性能測試能力。

5.優(yōu)異的光束控制技術:

 PD-QE 通過其光束耦合模塊提供精確的光束尺寸控制 (1*1 平方毫米),滿足精確光束控制的要求。 這讓客戶能夠進行精確的性能測試,并模擬特定的應用情境。 這滿足了客戶對精確光束控制的需求,幫助他們執(zhí)行更準確的效能評估和優(yōu)化。

6.寬廣的偏壓電壓范圍:

 PD-QE支持從20伏特到200伏特的偏壓電壓調整,滿足客戶在不同電壓條件下測試光電探測器的需求。 這有助于客戶全面評估產品效能,并確保在各種應用條件下穩(wěn)定運作。

7.易于操作和維護:

 PD-QE 采用用戶友善的設計,操作簡單,維護成本低,滿足客戶對易用性和維護性的需求。 這有助于客戶節(jié)省時間和成本,同時保持高效的測試流程。

8.客戶支持和技術服務:

 PD-QE 提供專業(yè)的客戶支持和技術服務,協(xié)助客戶快速解決使用過程中遇到的問題,確保設備穩(wěn)定運作。 這滿足了客戶對及時有效支持的需求,幫助他們維持高效的測試流程。



規(guī)格



 ● 光源不穩(wěn)定性< 1%

 ● 單色光模:波長范圍 300~1100 nm。

 ● 光斑耦合模組光斑尺寸:1*1mm2 。

 ● 偏置電壓也可由20V到200V。

 ● 可測量高分辨率的光電流,分辨率最高可達10~14 A。

 ● 波長擴充可達1800 nm。


應用


PD-QE光譜響應測試與光電傳感器特性分析可用于

 ● 第三代半導體材料:光電二極體/光電探測器。

 ● 有機光傳感器 (OPD, Organic Photodiode)。

 ● 鈣鈦礦光傳感器 (PPD, Perovskite Photodiode)。

 ● 量子點光傳感器(QDPD, Quantum Dots Photodiode)。

 ● 新型材料光傳感器。



實證

 ● NEP/D*:


光譜響應測試與光電探測器特性分析


光譜響應測試與光電探測器特性分析

PD-QE可直接針對器進進行頻率雜訊的測量與作圖。


 EQE 光譜


光譜響應測試與光電探測器特性分析


  PD-QE 可以進行 EQE 光譜測試。除了標準的 300nm ~ 1100nm 波段,PD-QE 可擴展到 1800nm。圖中顯示不同波長響應器件,在 PD-QE 系統(tǒng)下,測的 EQE 量子效率光譜。


 ● 整合多種SMU控制進行IV曲線測試:



光譜響應測試與光電探測器特性分析


  PD-QE 已整合 Keithley 與 Keysight 出產的多種 SMU,進行多種的 IV 曲線掃描。用戶無需另外尋找或是自行整合 IV 曲線測試。圖中顯示 PD-QE 測試不同樣品的 IV 曲線,并進行多圖顯示。


 ● 噪聲電流頻譜圖:


光譜響應測試與光電探測器特性分析


  PD-QE 憑借*進數字訊號采集與處理技術,直接可測試各種探測器在不同頻率下的噪聲電流圖。用戶無需在額外購買、整合頻譜分析儀進行測種測試!并且軟件可以進行多種頻段的特性分析,如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是針對新世代 PD 測試的完整解決方案。






 

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