當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測試 > 損耗缺陷分析 > REPS Ultra太陽能電池Voc損耗分析儀
簡要描述：光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個(gè)完整的系統(tǒng)，可以幫助科學(xué)家測量、計(jì)算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進(jìn)提供思路。
產(chǎn)品型號：REPS Ultra廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-03-07訪 問 量： 6903產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Enlitech | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源 | EL-EQE?un-repeatability | <1% |
| EL-EQE?un-reproducibility | <1.5% | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
| 測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
光焱科技REPS Voc損耗分析儀可以檢測極低的 EL-EQE 信號（低至 10-5%，即 7 個(gè)數(shù)量級），還可以計(jì)算熱力學(xué) Voc、輻射複合 Voc 和非輻射複合 Voc（通過其軟體SQ-VLA）。 此外，也可以在一個(gè)柱狀圖中分析不同類型設(shè)備之間的ΔE1、ΔE2和ΔE3損耗。 重要的是，分析軟體可以説明使用者將計(jì)算出的Voc-loss與設(shè)備IV曲線的真實(shí)Voc-loss進(jìn)行匹配，從而促進(jìn)研究進(jìn)展和期刊發(fā)表。
*它可以測量：absolute EL-EQE、EL spectra（V）、JV curve、EQE-J。
*該軟體可以顯示的圖表包括：EL-EQE（J）、EL-EQE（V） 、multi-EL-spectra、 JVL曲線、ΔE1、 ΔE2、和ΔE3直方圖。
*該系統(tǒng)可以計(jì)算和分析熱力學(xué)Voc、輻射複合Voc和非輻射複合Voc。
*波長檢測範(fàn)圍：300~1100納米; 並可擴(kuò)展到1700奈米（選項(xiàng)）。
* NIST-traceable absolute radiometric calibration（瓦特，從300~1100納米）。
*EL-EQE檢測範(fàn)圍：10-5%到極大值（動(dòng)態(tài)範(fàn)圍7階）。
*EL-EQE un-repeatability<1%。
*EL-EQE un-reproducibility<1.5%。
*EL低光檢測SN比：>50：1 @5×1 0-5%（REPS Pro）。
*Glove Box 整合工具包。
*客制的測試夾具。
REPS系統(tǒng)另有進(jìn)階類型（REPS Pro），其規(guī)格比較如下：
光焱科技REPS Voc損耗分析儀可用於：
– 改善OPV的Voc-loss
– 改善鈣鈦礦 Voc-loss
– 電荷傳輸狀態(tài)識別
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